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iCEM 2017特邀报告:X射线能谱技术研究

放大字体  缩小字体 发布日期:2017-05-23  来源:徐州企业网  浏览次数:2

第三届电镜网络会议(iCEM 2017)特邀报告

X射线能谱技术研究

曾毅研究员

中国科学院上海硅酸盐研究所

  报告摘要:

  X射线能谱仪(EDS)作为一种在扫描电镜和透射电镜中广泛应用的微区元素定性、定量分析工具,已经成为材料科研和生产中必可或缺的技术手段之一。尽管EDS已经广泛应用,而且其工作原理也相对简单,但很多人仅仅把其作为元素定性或者半定量分析的简单工具。在本次网络课堂中,将主要针对人们在实际应用中存在的一些共性问题进行讲述。例如:

  1、 EDS到底是半定量分析手段还是定量分析手段?同化学分析相比,它的结果可靠性到底如何?为什么有人会认为EDS结果不可靠,原因是什么?什么情况下EDS结果是可靠的?

  2、 能谱谱峰的背底是什么?它对定量结果和检出限的影响如何?为什么在谱峰的低能端背底更强?

  3、 为什么能谱选择时加速电压特别重要?过压比为什么选择2-3是最佳的?

  4、 为什么能谱的能量分辨率最好也只有121eV(对于MnKα而言)?制约能谱能量分辨率的主要因素是什么?

  5、 以往的锂漂移硅探测器为什么需要液氮?而目前常用的硅漂移探测器(SDD)不需要液氮?SDD探测器与以往的探测器相比有哪些优缺点?

  6、 EDS定量分析的空间分辨率由什么决定?

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  报告人简介:

  曾毅,中国科学院上海硅酸盐所分析测试中心副主任,研究员,博士生导师。主要从事材料显微结构-性能-工艺关系研究,实验室拥有FEI Verios, FEI Magellan400, Hitachi SU8220, Hitachi SU4800, JEOL 8100以及JEOL 6700等多台扫描电镜。

  近年来作为项目负责人承担了863、科技部国际合作专项、中科院重点部署项目、中科院国际合作重点项目、上海市民口科技支撑项目等多项材料表征技术相关研究项目,在国内外学术刊物发表显微结构表征技术论文近100篇。出版《低电压扫描电镜应用技术研究》和《扫描电镜和电子探针的基础及应用》学术专著两部,起草扫描电镜相关国家标准5个。是中国电镜学会理事,中国电镜学会扫描电镜专业委员会副主任委员。

  报名链接:http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/

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